Elektron Mikroskobu

 

http://www.emb.ankara.edu.tr   

 

҈    TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU (SEM)

Çalışma Prensibi:

SEM’de, yüksek enerjili elektronlar numune ile etkileşerek elektron ve foton sinyalleri oluşturur. Farklı açılarda saçılan elektronlar, dedektör (algılayıcı) tarafından toplanır ve toplanan sinyallerin mikroskop yazılımı ile işlenmesi sonucunda görüntüler elde edilir. İkincil elektronlar, malzeme topografisi ve geri saçılan elektronlar, atom numarasına ve kontrasta bağlı atomik  kompozisyon hakkında bilgi vermektedir. Ayrıca EDS dedektör ile noktasal, çizgisel veya bölgesel nitel ve nicel analiz ile elementlerin dağılım haritalaması yapılmaktadır.

Elektro-optik prensipler çerçevesinde tasarlanmış taramalı elektron mikroskobu (SEM), yüksek enerjili elektronların malzeme ile etkileşerek  örnek yüzeyinden görüntü alınmasını sağlayan sistemlerdir. Anakara Üniversitesi Nükleer Bilimler Enstitüsü bünyesinde bulunan ZEISS marka EVO 40 model SEM cihazı, incelenen malzemelerin mikro ve nano boyutta görüntülenmesine ve Enerji Dağılımlı X-ışınları spektrometresi (EDS) ile malzemenin elementel kompozisyonlarının belirlenmesine olanak sağlamaktadır.

SEM’de incelenen numuneler:

İletken örnekler
Kaplama yapılmış yalıtkan örnekler
Toz örnekler
İnce filmler
Biyolojik örnekler
Polimerler

Görüntüleme Modları:

İkincil elektron görüntüleme (SE)
Geri saçılan elektron görüntüleme (BSE)
Düşük vakum ikincil elektron görüntüleme (VPSE)
Enerji Dağılımlı X-ışınları dedektörü (EDS)

 

҈   GEÇİRİMLİ ELEKTRON MİKROSKOBU (TEM)

Çalışma Prensibi:

Yüksek potansiyel farkı altında hızlandırılmış elektronlar numune hazırlama koşullarına göre hazırlanmış yeterince geçirgen malzemeden geçerek, objektif ve projeksiyon lensler ile floresans ekrana malzemenin büyütülmüş görüntüsünü oluşturur. Yüksek büyütmedeki numune görüntüsü  CCD kameraya aktarılarak  görüntü bilgisayara işlenir.

Geçirimli elektron mikroskobu (TEM), oldukça yüksek enerjili  elektronların çok ince kalınlıktaki malzeme (<100 nm) ile etkileşmesi sonucu, malzemeden geçerek veya kırınıma uğrayarak görüntü işleyebilen yüksek çözünürlüklü sistemlerdir. Malzemeden geçen ve kırınıma uğrayan elektronlar hem atomik yapı hem de malzeme kusurları hakkında bilgi verirler. Ankara Üniversitesi Nükleer Bilimler Enstitüsü bünyesinde FEI marka G2 S Twin 200 kV RTEM bulunmaktadır.

Numune Hazırlama:

Toz numuneler, ultrasonik banyo ile uygun solüsyonlar içerisine dağıtılarak süspansiyon formları elde edilir. Karışım mikropipet yardımı ile uygun kaplamalı gridler üzerine ~ 10μl  damlatılarak  kurutulmaya bırakılır.

TEM’de incelenen numuneler:

Nanoparçacık
Karbon nanotüp
Nanoplaka
Nanofiber
Polimer malzemeler
Nanosünger
Bakteriyofaj
Polimerik-RNA
 

҈     Numune Hazırlama Sistemleri